“BGA测试座,LGA26,QFN 20/CPU,eMMC,eMCP,射频,模块,功能测试座,测试治具,FT测试,芯片功能测试夹具,指纹模块测试”参数说明
是否有现货: | 否 | 元器件种类: | 半导体器件测试仪 |
型号: | BGA,LGA,QFN,等等 | 规格: | 半导体芯片 |
商标: | sireda | 包装: | 纸箱 |
产量: | 100000 |
“BGA测试座,LGA26,QFN 20/CPU,eMMC,eMCP,射频,模块,功能测试座,测试治具,FT测试,芯片功能测试夹具,指纹模块测试”详细介绍
提供定制化BGA,LGA,QFN,射频模块,指纹模块等半导体功能测试架,测试治具,测试夹具
间距0.35-1.27 mm 可测试芯片PIN脚可达3000+,
能提供高频需求的射频等特殊芯片测试方案,高低温,大电流等特殊要求也能满足
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